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高低溫試驗箱

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>>電子電工標準不止有高低溫試驗箱的要求
電子電工標準不止有高低溫試驗箱的要求

時間:2018/4/28 14:09:26
 

      GB/T2423是電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗標準,其中GB/T2423.1與GB/T2423.2是高低溫試驗箱的高溫、低溫要求,但其實整套標準還有對鹽霧、濕熱、二氧化硫、長霉、穩(wěn)態(tài)、溫度沖擊、低氣壓等環(huán)境試驗設備的要求。目錄如下:

      高低溫試驗箱

      GBT 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗A 低溫
      GBT 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗B 高溫
      GBT 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Cab 恒定濕熱試驗
      GBT 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Db: 交變濕熱(12h+12h循環(huán))
      GBT 2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Cb:設備用恒定濕熱
      GBT 2423.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Ga和導則:穩(wěn)態(tài)加速度
      GBT 2423.16-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗J和導則:長霉
      GBT 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Ka:鹽霧
      GBT 2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)
      GBT 2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法
      GBT 2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kd:接觸點和連接件的硫化氫試驗方法
      GBT 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗M:低氣壓
      GBT 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗N:溫度變化試驗方法
      GBT 2423.24-2013 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射及其試驗導則
      GBT 2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
      GBT 2423.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗
      GBT 2423.27-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗
      GBT 2423.33-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗
      GBT 2423.34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗
      GBT 2423.35-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Z/Afc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗方法
      GBT 2423.36-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗ZB/Fc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗方法
      GBT 2423.37-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗L:沙塵試驗
      GBT 2423.38-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗R:水試驗方法和導則
      GBT 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 低溫/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗方法
      GBT 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗
      GBT 2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Ke:流動混合氣體腐蝕試驗
      GBT 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Z/ABMFh:溫度(低溫,高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合
      GBT 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗:溫度(低溫,高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合
 
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