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高低溫試驗箱

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高低溫試驗箱之不同標(biāo)準(zhǔn)對溫度偏差的定義

時間:2018/6/21 10:19:55
 

      GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備中的定義:試驗箱穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間各測量點在規(guī)定時間內(nèi)實測最高溫度和最低溫度與標(biāo)稱溫度的上下偏差。

高低溫試驗箱

      GB/T10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件中的定義:穩(wěn)定后,在任意時間間隔內(nèi),工作空間中心溫度的平均值和工作空間內(nèi)其它點的溫度的平均值之差。
      JJF1101-2003 環(huán)境試驗設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范中的定義:環(huán)境試驗設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下,顯示溫度平均值與工作空間中心點實測溫度平均值的差值。
      GJB5020-2003 溫度、濕度、振動綜合試驗設(shè)備校準(zhǔn)方法:無定義,計算方法與GB/T5170.2相同,但取最大值為溫度偏差。
      GB/T2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認(rèn):無定義和計算方法。
 
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